设备型号：S-4800
主要参数：
二次电子分辨率： 1.0nm (15kV)； 2.0nm (1kV)，催化剂(Pt on C)；1.4nm (1kV减速模式) Catalyst(Pt on C)；背散射电子分辨率：3.0 nm (15 kV)；
加速电压：0.5～30kV；电子枪：冷场发射电子源；放大倍率：30～200,000倍；X射线能谱仪的元素分析范围：Be4～U92。
主要用途：
用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织，并对材料表面微区成分进行定性和定量分析。具体可用于：金属、陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、变形层等的观察；材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定；金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定； 纳米材料及其它无机或有机固体材料的粒度观察和分析；进行材料表面微区成分的定性和定量分析。
